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Instruments analytiques : spectroscopie et chromatographie

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Microscope IR IRT-5200

Microscope FT / IR haute sensibilité utilisant un détecteur MCT en standard

Microscope FT-IR IRT-5200

Équipé en standard d'une platine manuelle pour les modes de mesure de transmittance, réflectance et ATR

Cartographie IQ mapping en standard, fonctionne en réflexion, transmission et ATR.

Upgradable en système d'imagerie infrarouge avec détecteur MCT multi-éléments

IRT-5200: détecteur MCT  (7800-600 cm -1 )

Capacité de double détecteur

Gamme spectrale:  7800 – 600 cm-1, 15000-10 cm-1 en option

Objectifs:  Cassegrain 16x, ou 32x, ou 10x

- Reconnaissance automatique des objectifs (standard)

- jusqu'à 4 objectifs peuvent être séléctionnés par le logiciel.

Aperture:  Motorisée contrôlée par logiciel

Platine manuelle:  X: 70mm, Y: 50mm, Z: 20mm, platine motorisée en option X: 100mm, Y: 75mm, Z: 25mm

Visualisation: Caméra Haute résolution  3.5 Mega pixel   CMOS

 

IQ mapping ATR

Les microscopes FT-IR IRT-5000 offrent de nouvelles fonctions qui améliorent considérablement l'analyse micro-spectroscopique infrarouge. Le microscope IRT-5000 est utilisé avec les spectromètres FT-IR-4000 ou FT-IR-6000, combinant à la fois des mesures micro et macro FTIR, offrant les systèmes de microscopie et d'imagerie les plus avancés. Les systèmes sont généralement utilisés dans l'IR moyen pour l'identification des matériaux et l'analyse médico-légale ou dans l'IR proche et lointain pour la recherche plus fondamentale.

Les microscopes IRT-5000 FTIR comprennent un carrousel automatique avec des objectifs cassegrain de réflexion pour l'observation et la mesure de reflexion et un condenseur cassegrain pour les mesures de transmission. Jusqu'à deux détecteurs peuvent être installés pour étendre la gamme spectrale du microscope. La fonction unique de cartographie IQ mapping peut être utilisée pour la cartographie en transmission ou réflectance ou ATR sans qu'il soit nécessaire de déplacer la platine d'échantillonnage. Une platine d'échantillonnage automatique XYZ avec mise au point automatique est disponible en option ou en standard selon les modèles, elle peut être utilisée pour analyser ou cartographier une zone d'échantillonnage plus grande. L'ajout d'un détecteur multi éléments MCT linéaire permet une cartographie et une imagerie à très grande vitesse, particulièrement utiles pour les expériences dynamiques.

Caractéristiques du système

  • IQ mapping , cartographie sans déplacer la platine d'échantillonnage en option ou en standard
  • Suite Spectra Manager ™
  • KnowItAll® Informatique et recherche de bibliothèque avec base de spectres
  • Purge (Standard) Vide complet (Option)
  • Scan rapide en option avec logiciel d'analyse 3D en interval
  • platine manuelle en standard,  automatique et avec contrôle de la température (refroidissement cryogénique et chauffage) en option
  • Double capacité de détection et détecteurs échangeables par l'utilisateur
  • Carrousel avec plusieurs objectifs et commutation automatique, jusqu'à 4 objectifs
  • Clarté d'observation visuelle exceptionnelle
  • IQ visualisation pour l'observation simultanée du spectre et de l'image de l'échantillon
  • Aperçu du spectre pour vérifier les conditions avant la mesure
  • Le fichier de données comprend des informations sur l'image et l'ouverture du masque

Variété de modes de mesure (transmission, réflectance, ATR, angle rasant)

  • Le microscope IRT-5200 FTIR comprend un détecteur MCT (jusqu'à deux détecteurs peuvent être installés).
  • L’IQ mapping en standard permet la cartographie en transmission / réflectance et l'ATR sans déplacement de la platine.

Une platine XYZ automatique en option permet la mise au point automatique et la cartographie ou l'analyse d'imagerie de zones d'échantillonnage plus grandes.

  • Double détecteur, avec des détecteurs échangeables par l’utilisateur utilisant un système à «cassette»détecteur IR interchangeables
  • Variété de modes de mesure (transmission, réflexion, ATR, réflexion angle rasant
  • Carrousel objectif 4 positions
  • Upgradable vers un système d'imagerie infrarouge à haute vitesse utilisant un détecteur à réseau linéaire à 16 éléments MCT

Le programme de mesure de micro-analyse convivial Spectra Manager ™ offre de nombreuses fonctions automatisées avec une opération simplifiée. Les conditions de mesure, les opérations de visualisation / mesure des échantillons de microscopie et les résultats de mesure peuvent être consultés sur un seul écran. L'interface de microscope dédiée fournit différents types de mesures telles que les points uniques et multiples, la cartographie et les mesures en ligne à l'aide d'un simple clic de souris pour la sélection du mode. La visualisation en temps réel du spectre et d’une image calculée du groupe fonctionnel peuvent être spécifiées pendant la mesure de la cartographie.

Cartographie ATR innovante : L'objectif ClearView ATR permet une visualisation simultanée de l'échantillon lorsque le prisme ATR entre en contact avec l'échantillon et pendant la collecte de données ATR.

L’IQ Mapping permet une cartographie multipoint automatisée, une cartographie linéaire, une cartographie en grille et une analyse par imagerie infrarouge d'une zone microscopique avec une platine d'échantillonnage manuelle et un détecteur à élément unique. La cartographie IQ mapping couplée à un objectif ATR «ClearView» permet une cartographie ATR et une imagerie ATR d'un échantillon en contact avec l'objectif ATR sans déplacer la platine ou l'objectif ATR, tout en observant la zone d'échantillon en contact avec le cristal ATR.

L’IQ Mapping minimise les dommages aux échantillons et fournit des mesures rapides et sans contamination croisés d'une zone d'échantillonnage relativement petite, la surface pouvant être cartographié dépend du type de cristal ATR ou de l’objectif.

Système de purge et de vide complet

Les pics d'absorption dus à la vapeur d'eau atmosphérique et au CO2 peuvent rendre difficile l'obtention de spectres d'échantillons de haute qualité. Le microscope standard et le système optique FTIR comprennent une purge multizone pour réduire les effets des gaz atmosphériques, mais la solution la plus efficace est la mesure des échantillons dans le vide. Les microscopes IR des séries 5000 et 7000 peut être configurées comme des systèmes de microscopie FT-IR sous vide complet.

Microspcope IR sous vide
Normal sample view with the crystal element in the raised position Sample viewing after crystal contact with the sample area ATR measurement and simultaneous sample viewing
The ATR-5000-SD, ATR-5000-SS, and ATR-5000-SG enables sample viewing by setting the ATR crystal in the raised position. The ATR-5000-SD and ATR-5000-SS enable sample viewing through the ATR crystal after contact with the sample surface. The ATR-5000-SD and ATR-5000-SS ATR objectives provide simultaneous sample view during ATR data collection.

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