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Instruments analytiques : spectroscopie et chromatographie

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Microscope IR IRT-7200

Microscope imageur FT / IR haute sensibilité entièrement automatisé avec platine motorisée et acquisitions rapides, utilisant un détecteur MCT et LA-MCT 16 éléments et le mode Rapid scan.

Microscope FT-IR IRT-5200

Équipé en standard d'une platine automatique pour les modes de mesure de transmittance, réflectance et ATR et des acquisitions rapides en mode rapid scan.

Cartographie IQ mapping en standard, fonctionne en réflexion, transmission et ATR.

 

Imageur IR IRT-7200: détecteur MCT  (7800-600 cm -1 ) + LA-MCT 16 éléménts (7800-600 cm-1 )

Capacité détecteurs échangeables par l'utilisateur pour gamme étendue

Gamme spectrale:  7800 – 600 cm-1, 15000-10 cm-1 en option

Objectifs:  Cassegrain 16x et 32x en standard  , 10x en option

- Reconnaissance automatique des objectifs (standard)

- jusqu'à 4 objectifs peuvent être séléctionnés par le logiciel.

Aperture:  Motorisée contrôlée par logiciel

Platine motorisée en standard   X: 100mm, Y: 75mm, Z: 25mm

Visualisation: Caméra Haute résolution  3.5 Mega pixel   CMOS

 

Mapping infrarouge imageur IR
Objectif 16 X
LA-MCT 16 éléments
Surface: 1 mm2
Résolution spatiale 12.5µm x 12.5 µm
Temps de mesure: 80 secondes
IQ mapping ATR

Les microscopes FT-IR IRT-5000 et IRT-7000 offrent de nouvelles fonctions qui améliorent considérablement l'analyse micro-spectroscopique infrarouge. Le microscope IRT-7200 est utilisé avec les spectromètres FT-IR-4000 ou FT-IR-6000 en mode rapid scan, combinant à la fois des mesures micro et macro FTIR très rapides, offrant les systèmes de microscopie et d'imagerie les plus avancés. Les systèmes sont généralement utilisés dans l'IR moyen pour l'identification des matériaux et l'analyse médico-légale ou dans l'IR proche et lointain pour la recherche plus fondamentale.

Les microscopes FT-IR IRT-5000 et IR-7000 comprennent un carrousel automatique avec des objectifs cassegrain de réflexion pour l'observation et la mesure de reflexion et un condenseur cassegrain pour les mesures de transmission. Jusqu'à deux détecteurs peuvent être installés pour étendre la gamme spectrale du microscope. La fonction unique de cartographie IQ mapping peut être utilisée pour la cartographie en transmission ou réflectance ou ATR sans qu'il soit nécessaire de déplacer la platine d'échantillonnage. Une platine d'échantillonnage automatique XYZ avec mise au point automatique est disponible en standard sur l'IRT-7200. Elle peut être utilisée pour analyser ou cartographier une zone d'échantillonnage plus grande. L'ajout d'un détecteur multi-éléments MCT linéaire permet une cartographie et une imagerie à très grande vitesse, particulièrement utiles pour les expériences dynamiques.

Caractéristiques du système

  • IQ mapping , cartographie sans déplacer la platine d'échantillonnage en standard
  • Double détecteur MCT +  MCT-LA 16 élements linéaires
  • Suite Spectra Manager ™
  • KnowItAll® Informatique et recherche de bibliothèque avec base de spectres
  • Purge (Standard) Vide complet (Option)
  • Scan rapide en standard avec logiciel d'analyse 3D en interval, acquisitions rapides avec mode rapid scan, imagerie en mode step scan en option.
  • Platine automatique en standard,  contrôle de la température (refroidissement cryogénique et chauffage) en option
  • Double capacité de détection et détecteurs échangeables par l'utilisateur
  • Carrousel avec plusieurs objectifs et commutation automatique, jusqu'à 4 objectifs avec objectifs 16X et 32 X en standard
  • Clarté d'observation visuelle exceptionnelle
  • IQ visualisation pour l'observation simultanée du spectre et de l'image de l'échantillon
  • Aperçu du spectre pour vérifier les conditions avant la mesure
  • Le fichier de données comprend des informations sur l'image et l'ouverture du masque

Variété de modes de mesure (transmission, réflectance, ATR, angle rasant)

  • Le microscope IRT-7200 FTIR comprend un détecteur MCT (jusqu'à deux détecteurs peuvent être installés) et un détecteur MCT 16 éléments linéaire pour l'imagerie rapide.
  • L’IQ mapping en standard permet la cartographie en transmission / réflectance et l'ATR sans déplacement de la platine.

Une platine XYZ automatique en standard permet la mise au point automatique et la cartographie ou l'analyse d'imagerie de zones d'échantillonnage plus grandes.

  • Double-détecteur, avec des détecteurs échangeables par l’utilisateur utilisant un système à «cassette»détecteur IR interchangeables
  • Variété de modes de mesure (transmission, réflexion, ATR, réflexion angle rasant
  • Carrousel objectif 4 positions
  • Upgradable vers un système d'imagerie infrarouge à haute vitesse utilisant un détecteur à réseau linéaire à 16 éléments MCT

Le programme de mesure de micro-analyse convivial Spectra Manager ™ offre de nombreuses fonctions automatisées avec une opération simplifiée. Les conditions de mesure, les opérations de visualisation / mesure des échantillons de microscopie et les résultats de mesure peuvent être consultés sur un seul écran. L'interface de microscope dédiée fournit différents types de mesures telles que les points uniques et multiples, la cartographie et les mesures en ligne à l'aide d'un simple clic de souris pour la sélection du mode. La visualisation en temps réel du spectre et d’une image calculée du groupe fonctionnel peuvent être spécifiées pendant la mesure de la cartographie.

Cartographie ATR innovante : L'objectif ClearView ATR permet une visualisation simultanée de l'échantillon lorsque le prisme ATR entre en contact avec l'échantillon et pendant la collecte de données ATR.

L’IQ Mapping permet une cartographie multipoint automatisée, une cartographie linéaire, une cartographie en grille et une analyse par imagerie infrarouge d'une zone microscopique avec une platine d'échantillonnage manuelle et un détecteur à élément unique. La cartographie IQ mapping couplée à un objectif ATR «ClearView» permet une cartographie ATR et une imagerie ATR d'un échantillon en contact avec l'objectif ATR sans déplacer la platine ou l'objectif ATR, tout en observant la zone d'échantillon en contact avec le cristal ATR.

L’IQ Mapping minimise les dommages aux échantillons et fournit des mesures rapides et sans contamination croisés d'une zone d'échantillonnage relativement petite. La surface pouvant être cartographiée dépend du type de cristal ATR ou de l’objectif.

Système de purge et de vide complet en option

Les pics d'absorption dus à la vapeur d'eau atmosphérique et au CO2 peuvent rendre difficile l'obtention de spectres d'échantillons de haute qualité. Le microscope standard et le système optique FTIR comprennent une purge multizone pour réduire les effets des gaz atmosphériques, mais la solution la plus efficace est la mesure des échantillons dans le vide. Les microscopes IR des séries 5000 et 7000 peut être configurés comme des systèmes de microscopie FT-IR sous vide complet.

Microspcope IR sous vide

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